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HCC-24 磁阻法測厚儀
1 概述
HCC-24 磁阻法測厚儀是一種用電池供電的便攜式測量
儀器，可快速無損地測量導磁材料表面上非導磁覆蓋層厚
度。例如：鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等。
由于集成電路和微處理器的應用，使本儀器具有操作簡
單、使用方便、穩定性好、測量精度高的優點。儀器具有
數理統計功能，可直接顯示測量次數、平均值、較大值及
較小值。
本儀器采用電磁感應原理進行測量，符合**標準
ISO2178和國家標準GB/T4956。當探頭與覆蓋層接觸時，探
頭和磁性基體構成一閉合磁回路，由于非磁性覆蓋層存
在，使磁路磁阻增加，磁阻的大小正比于覆蓋層的厚度。
通過對磁阻的測量，經電腦進行分析處理，由液晶顯示器
直接顯示出測量值。
2 技術參數
1）測量范圍：0μm～1200μm。
2）示值誤差：±(3%H+1）μm H為被測涂層厚度。
3）分 辨 率：1μm。
4）較小測量面的直徑：φ10 mm。
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5）顯 示：4位LCD顯示測量的次數、平均值、較
大值、較小值，同時指示儀器的工作狀
態及電池使用情況。
6）電 源：一節6F22型9V電池。
7）外形尺寸：160 mm×80 mm×30 mm。
8）質 量：約250g。
9）使用環境：溫度0℃～40℃；
相對濕度不大于。
3 儀器外型
顯示窗
面板
主機
探頭
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4 按鍵說明
1）“開/關”：儀器的開關鍵。
2）“統計RES”：數理統計鍵，對測量結果進行數理
統計，并順序顯示下述數據，即測量的次數
（N）、平均值（MEAN）、較大值（MAX）、較
小值（MIN）。
3）“DEL”：從統計中當前測量值的鍵。
4）“校正CAL”：用于校正儀器的鍵。
5）“︿”：處在校正方式時，遞增顯示數值的鍵；在
正常測試時，用于普通模式與連續測量模式轉換。
6） “﹀”：處在校正方式時，遞減顯示數值的鍵；在
正常測試時，用于普通模式與連續測量模式轉換。
5 儀器的基本使用方法
用本儀器進行測試使用起來非常簡單：首先用螺絲
撬開儀器背面的電池盒蓋，裝入電池。然后按“開/關”鍵
開機，儀器顯示“- - -”，2秒鐘后顯示“0μm”，儀器便
進入測量狀態。此時，用戶只要將儀器的探頭垂直壓在被
測面上（如圖1）。注意，探頭按下時，探頭的尾部會抬
起，手不要碰到探頭的金屬部分，以免影響保持探頭內體
自由上下活動。保持探頭放置穩定，儀器顯示器上會出現
一個 標志，并顯示測試結果。如果要再測一次，往
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上提探頭使其離開被測面，然后再按下探頭，儀器隨后就
會顯示新的測試結果。如果被測面是弧形的，按圖2的方
式，使探頭下端的三角開叉跨在被測件上，這樣便能穩固
地放置探頭，保證測試結果準確。
圖1 圖2
為了保證儀器正常工作并獲得較佳工作狀態，請注意
以下2個使用細節：
1. 在儀器開機時，使探頭遠離被測件和其它鐵磁性物
體（10cm以上），直到儀器顯示“0μm”為止。
2. 每次測試后，盡量上提探頭，使其遠離被測件，這
樣會使儀器處于良好的環境適應狀態。
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6 正式測試前的準備工作
用戶購買后的新儀器在進行實際使用前，都必須要進
行儀器的校正，這是保證儀器達到標稱精度的重要保證，
請務必重視。
儀器有多種校正方法，使用很靈活，用戶可根據實際
需要選擇如下一種方式：
1） 全范圍高準確度的傳統校正法
用戶通過隨機配備的三個不同厚度的試片和裸基體完
成校正，具體步驟如下：
步驟一
在儀器處于開機后的狀態時，按一下“校正CAL”
鍵，儀器屏上會出現“CAL”，同時會顯示一個數值，該
數值如果不為“0”，按“﹀”鍵，直到該數值由大到小變
到“0”為止。然后將探頭放在裸基體的測試面上進行測試
（注意，這里的裸基體一定要和實際被測物的材料和形狀
完全相同。不要使用隨機配備的標準金屬基塊，那只能用
來驗證儀器本身工作是否正常，不能用來校正儀器）?？?/p>
以測試幾下，待儀器上顯示的數值基本穩定后，按一下
“校正CAL”鍵，儀器的零點便校正完畢，它會顯示一個
新的數值。
步驟二
接上一步驟，用**個試片來校正。看一下儀器上顯
示的數值和隨機配備較薄的試片的實際厚度是否一致，該
片所標注的實際厚度在20μm左右。用“︿”或“﹀”鍵，
使儀器上顯示的數值和該試片的實際厚度值一致。然后將
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該試片平放在裸基體上，探頭再壓在上面進行測試，可以
重復幾次。待儀器顯示的測量值穩定后，按一下“校正
CAL”鍵，**個試片的校正結束，儀器又顯示下一個校正
片的厚度值。
步驟三
用步驟二相同的方法，只是所用試片要換成厚度
200μm左右的那一片。
步驟四
依然和步驟二相同，但所用的試片要換成1200μm左右
的那一片。到這個步驟的最后階段，按一下“校正CAL”
鍵，儀器屏上還會繼續顯示一個校正片的厚度值，如
“1999”，不用再做下去了，再按一下“校正CAL”鍵，
校正便全部結束了。這時的儀器便可以進行高準確度的實
際測量了。
在以后使用時，如果有必要，可以再次做上面四個步
驟的校正。儀器會記住了上次的零點和每個試片的厚度
值，這樣就可以根據儀器提示，不用再修正試片厚度值，
便能輕松完成各個步驟。
2） 上下限校正法
在大多數情況下，用戶使用本儀器測試的對象有一定
的共性，如材料和形狀相同，涂層厚度也局限在某個范圍
內，此時用戶關心的也許是被測對象的涂層是否**差。如
果這些條件成立，那么就沒有必要使用上面多步驟的傳統
校正法，而只需要運用上下限校正便能很好地完成使命。
本方法只需要兩個步驟校正兩點，當然，這兩點較好
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直接選用用戶被測件涂層允許范圍中的較小和較大厚度。
這樣校正的結果，儀器在這兩個校正點上的精度非常高，
甚至比上面傳統的校正還要好。要實現這一點，用戶首先
要設法獲得符合這兩個校正點厚度的試片，可以向本公司
提出購買特殊試片的要求，也可以自行尋找符合條件的樣
品。不于苛求試片或樣品的厚度值與理想的校正點完
全相符。有了這兩個厚度片或實際樣品后，校正便可按如
下步驟進行：
步驟一
先校正兩者中較小的那個厚度值。在儀器開機后的狀
態下，按一下“校正CAL”鍵，用“︿”或“﹀”鍵調整
儀器顯示的厚度值，使其和兩點中較小的那個厚度值一
致。然后，在裸基體上平放對應厚度的試片，探頭再壓上
進行測試。如果是樣品，那么直接測試該樣品。可以重復
幾次測試，待儀器顯示的測試值穩定后，按一下“校正
CAL”鍵，該點的校正便完成，儀器進入下一點校正。
步驟二
接上一步驟，用“︿”、“﹀”鍵調整儀器顯示的厚
度值，使其和兩點中較大的那個厚度值一致。按步驟一同
樣的方法，用另一塊對應的試片或樣品進行測試，待儀器
顯示的測量值穩定后，按兩次“校正CAL”鍵（后一次按
鍵使儀器退出校正過程），上下限的校正便完成了。
如果以后還要做同樣的上下限校正，借助儀器已經記
住的兩個校正點厚度值，能進一步讓用戶省去上面兩個步
驟中調整厚度的那部分操作，使用將較加便捷。
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3） 單點校正法
有時候，受條件限制，譬如被測體是個凹面，無法使
用很難彎曲的厚試片進行校正；或者用戶接觸到的涂層厚
度局限在一個相對較小的范圍內。此時，只能或只需要用
一個校正點。這個校正點可以是裸基體（零點），也可以
是某個任意涂層厚度的樣品。如果用戶的接觸到的被測件
涂層厚度在某個較小范圍內，如100μm左右，那么這個校
正點選100μm是較合適的。校正點定好以后就可以開始校
正了，只有如下一個步驟：
在儀器開機后的狀態下，按一下“校正CAL”鍵，用
“︿”或“﹀”鍵調整儀器顯示的厚度值，使其為“0”或
與樣品的厚度值一致。然后，將探頭直接放在裸基體上進
行測試。如果是樣品，那么直接測試該樣品?？梢灾貜蜏y
幾次，待儀器顯示的測試值穩定后，按兩下“校正CAL”
鍵（后一次按鍵使儀器退出校正過程），單點校正便完成
了。
同樣，如果以后還要做同樣的單點校正，借助儀器已
經記住的校正點厚度值，能進一步讓用戶省去上面步驟中
調整厚度的那部分操作，使用將較加便捷。
相對于上面的幾種方法，本校正法的操作較簡單。但
代價是儀器的測試精度在遠離校正點處可能會有所降低。
用戶可以不妨試用一下本校正法，以便判斷它能否滿足實
際的測試要求。
4） 任意多個校正點校正法
如果用戶接觸到的被測物件形狀比較特殊，而且涂層
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厚度的范圍也比較大，同時精度又有較高的要求，那么用
戶可以自行挑選多個校正點（較多10個）進行校正，儀器
允許的校正點厚度為0 ～ 1999μm。有一點請注意，在實
際進行校正的過程中，多個厚度執行順序必須由小到大依
次進行。具體的操作步驟和上面的傳統校正法類似，此處
就不再重復了。
7 儀器的其它操作說明
1）通過多次測量后，按“統計RES”鍵可依次顯示出
測量次數、測量結果的平均值、較大值、較小值。
按了“統計RES”鍵后，如再次測量，儀器會原有
的測量值，并存儲新的測量值，并重新計算各個統計值。
如果在測量中，因探頭放置不穩，顯示出一個明顯錯
誤測量值，可按“DEL”鍵該測量值，以免影響
統計結果的準確性。
2）儀器使用完畢后，按“開/關”鍵，關閉電源。本儀
器還有自動關機功能，如不進行任何操作，顯示屏上也沒
有 顯示，儀器會在大約五分鐘后自動關機。
3）本儀器有電源狀態指示功能，當電源電壓不足時，
顯示器左上角顯示“BAT”。此后，儀器雖仍能工作約二
小時，但建議用戶此時應更換電池。
4）除上述常規的工作模式外，本儀器還有一種連續顯
示模式。在常規工作模式下,按“︿”或“﹀”鍵即可進入
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連續顯示模式，這時顯示器右上角出現“FREE”標志。在
該狀態下，測量值不儲存，每次測量完成后，探頭不必提
離被測物，測量和顯示仍繼續進行。這樣，通過探頭在被
測物表面移動，可觀察到測量值的連續變化。
再次按“︿”或“﹀”鍵可退回到常規工作模式，這
時“FREE”標志消失。
測量值的變化一般是由于涂鍍層厚度不均勻引起的，
但被測零件的表面曲率變化或邊緣效應以及基體表面粗糙
度也會造成測量值的變化。
5）測量微小零件時，建議使用適當的夾具固定被測件
（如圖3）。
圖3
磁阻法測厚儀
產品性能簡介 PRODUCT PERFORMANCE
一種用電池供電的便攜式測量儀器，可快速無損地測量導磁材料表面上非導磁覆蓋層厚度，如鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等；操作簡單、使用方便、穩定性好、測量精度高；具有數理統計功能，可直接顯示測量次數、平均值、較大值及較小值；采用電磁感應原理進行測量，符合**標準ISO2178和國家標準GB/T4956。
基本參數
1.測量范圍： 0μm～1200μm 。
2.示值誤差 ： ±(3%H+1）μm H為被測涂層厚度 。
3.分 辨 率 ： 1μm 。
4.較小測量面直徑 ： 較小測量面的直徑：φ10 mm 。
5.顯示 ： 4位LCD顯示測量的次數、平均值、較大值、較小值，同時指示儀器的工作狀態及電池使用情況 。
6.電源： 一節6F22型9V電池 。
7.外形尺寸 ： 160 mm×80 mm×30 mm。
8.質量 ：約250g 。
9.使用環境 ： 溫度0℃～40℃；相對濕度不大于 。
HCC-16P超聲波測厚儀
應用超聲波脈沖反射原理進行厚度或聲速測量；*的非線性校準功能和自動零位校準功能；專為厚度檢驗方面的應用而設計的上、下限報警功能將給使用者帶來大的便利；對于大部分能傳播超聲波的材料均可以使用本儀器測厚，如：金屬、陶瓷、塑料、玻璃等。本儀器適用于石化工業、造船業、汽車制造業、電站、機器制造業中對鍋爐、儲油罐、船殼、甲板、軌道、機加工零件等的厚度測量和腐蝕測量；對于表面腐蝕粗糙的被測件，也具有較強的探測能力。
HCC-17超聲波測厚儀
采用超聲脈沖波反射原理測定工件的厚度；單面測量，適用廣泛，尤其對大型板材、管道、鍋爐和船體等的壁厚測量；面板上僅有四個按鍵即能完成全部的設定和控制，操作簡便；**的非線性自動補償能使測試結果較加準確；小巧精致，風格*，攜帶非常容易，手持腕扣均可，即便是高空作業也非常方便。同時根據工況環境要求可選擇本型號的防爆型。
HCC-18磁阻法測厚儀
電池供電的便攜式測量儀器，操作簡單、使用方便、穩定性好、測量精度高；可以直接測量導磁材料表面上的非導磁覆蓋層厚度；采用磁阻法測量技術，當測量探頭與覆蓋層接觸時，探頭與導磁基體構成一個閉合磁回路，通過磁阻大小測量即可得到覆蓋層厚度值，直接從儀器表頭上讀出；可應用于電鍍層、油漆層、搪瓷層、塑料層、鋁瓦、銅瓦、巴氏合金瓦、磷化層，紙張等厚度測量，也可用于船體油漆及結構件的附著物的厚度測量。
HCC-18A磁阻法測厚儀
電池供電的便攜式測量儀器，操作簡單、使用方便、穩定性好、測量精度高；可以直接測量導磁材料表面上的非導磁覆蓋層厚度；采用磁阻法測量技術，通過磁阻大小測量即可得到覆蓋層厚度值，直接從儀器表頭上讀出；可應用于電鍍層、油漆層、塑料層、紙張等厚度測量，也可用于船體油漆及結構件的附著物的厚度測量；雙量程（量程Ⅰ：0~200μm、量程Ⅱ：150~2000μm），提高了測量精度。
HCC-24磁阻法測厚儀
一種用電池供電的便攜式測量儀器，可快速無損地測量導磁材料表面上非導磁覆蓋層厚度，如鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等；操作簡單、使用方便、穩定性好、測量精度高；具有數理統計功能，可直接顯示測量次數、平均值、較大值及較小值；采用電磁感應原理進行測量，符合**標準ISO2178和國家標準GB/T4956。
HCC-25電渦流式測厚儀
應用電渦流原理測量，儀器的設計符合ISO2360和GB4957標準；適用于非導磁金屬基體上非導電覆蓋層厚度的測量，如：測量鋁的陽極氧化層以及鋁、銅、鋅等材料表面上油漆、噴塑和橡膠覆蓋層的厚度，在航空、建材、輕工、機械、儀表、化工等行業已得到廣泛的應用；**的耐磨導套式測量探頭和單片微機的應用，測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便、體積小巧、數據處理功能強。